DCG Systems®收购MultiProbe™，打造完备纳米探针产品组合

 　　Marketwired 2015年6月30日美国加州弗里蒙特消息/明通新闻专线/——

　　DCG Systems®今天宣布收购MultiProbe™的资产。MultiProbe是为半导体行业提供基于原子力的纳米探针解决方案的领先提供商。MultiProbe创立于2001年，旨在满足缺陷分析工程师日益增长的需求，帮助半导体行业为深亚微米器件技术开发寻找解决方案。DCG旗下的MultiProbe将继续在加州圣巴巴拉运营。

　　MultiProbe的旗舰产品Hyperion™利用原子力探针(AFP)技术，提供晶体管的电气缺陷表征和定位功能。MultiProbe系统还能工作在一个被称为PicoCurrent™成像的模式，可以同时显示晶体管结构形貌和电导率的变化情况。工程师因此能够快速发现异常特征，再通过晶体管探查做进一步研究。

　　DCG的旗舰纳米探针系统nProber II™ 建立在扫描电子显微镜(SEM)平台上。和Hyperion一样，nProber II系统也提供晶体管的电气缺陷定位和表征功能。nProber II还能工作在电子束电流(ENBC)模式，可以定位互连结构内部的表层和亚表层短路、开路及电阻缺陷。

　　DCG Systems, Inc.首席执行官Israel Niv博士表示：“MultiProbe的基于AFP的纳米探针系统丰富了DC Systems的基于SEM的纳米探针产品组合。这两项不同技术的强强联合将助力合并后的公司更好地解决各种客户现在和将来所面临的导致良率不高的电气缺陷问题。”

　　MultiProbe创始人、首席执行官Andy Erickson表示：“纳米探针在良率工程中变得日益重要，在这样一个时刻，我很高兴将MultiProbe交付给DCG Systems。此外，合并后的实力增强的全球应用和服务团队也会使我们的客户受益。”

　　一家同时使用Hyperion和nProber II的主要半导体厂商评论说：“为加快良率提升速度，我们广泛采用导电原子力显微术(CAFM)和PicoCurrent成像用于晶体管缺陷定位，采用EBC用于金属层缺陷定位。这两种纳米探针系统都用于我们的最先进工艺晶体管的表征。”

　　Hyperion和nProber II纳米探针系统已被全球众多客户用于加快10纳米级器件的开发和良率提升。

　　关于DCG Systems

　　DCG Systems, Inc.是行业领先的电气缺陷表征、定位和电路修补设备供应商，服务于广大半导体和电子制造商的工艺开发、良率提高和缺陷分析应用。DCG Systems已在全球部署了超过1500套系统，通过位于加州弗里蒙特的总部以及设在美国、日本、台湾、韩国、马来西亚、新加坡、以色列和德国的办事处为全球客户提供服务。了解DCG Systems的详情，请访问：www.dcgsystems.com 。

　　照片1：(握手)

　　DCG Systems首席执行官Israel Niv博士和MultiProbe创始人、首席执行官Andy Erickson先生

　　签署收购协议

　　照片2：(黑色桌椅)

　　nProber II™–基于DCG SEM的纳米探针

　　照片3：(灰色桌子和3块显示屏)

　　Hyperion™–基于DCG AFP的纳米探针

　　联系方式： jet_perland@dcgsystems.com

　　营销传播

　　DCG Systems, Inc.